该仪器专为研究低强度样品的荧光衰减而设计。由于荧光现象的典型时间尺度在 10^-8 秒范围内,因此需要更快速的设备来观察如此迅速的过程。被测样品由皮秒激光脉冲激发。样品去激发后,系统测量单个光子从样品发射后的飞行时间。光子通过单色仪后到达光电倍增管。对捕获的每个光子的飞行时间进行统计分析,可重建样品中诱导产生的荧光脉冲形状。
为了确保 FPC-TDC 光谱荧光仪的性能,关键要求是光子到达探测器的概率低于 10%(每脉冲)。因此,该仪器在研究低荧光产率的材料方面具有无可匹敌的优势。系统还适配于研究电化学样品。
R4998 Hammamatsu