强度调制光电流/光电压光谱法是一种发现以下样品特性的方法:
IMPS/IMVS 仪器是光电光谱仪或微型光电光谱仪等静态光电流/光电电压测量设备的补充。
IMPS/IMVS 软件非常直观,不需要任何额外的培训。
下面所示的测量结果是在 KNO3 电解液中对 ITO 箔上的纳米晶锐钛矿获得的。
奈奎斯特(或阿甘德)图显示了在光调制频率范围内测得的光电流的实部和虚部。
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显示光电流实部和虚部与光调制频率关系的 3D 奈奎斯特(阿甘)图。
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伯德图显示了相对于光调制的光电流幅度和相移。 明显的相位跳变是由于假定的相位范围从 -π 到 π 造成的。
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光电流的实部(X)和虚部(Y)与光调制频率的函数关系。
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及时产生光电流。 警告:与使用 IUPAC(反符号)约定的恒电位测量(世界上所有恒电位仪采用)相比,当前的符号约定是正常的。
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测量工作由 J. Kuncewicz 教授(雅盖隆大学)完成并分享。